德國HOMMEL NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀
簡要描述:
德國HOMMEL NanoScan高精密粗(cu)糙輪廓度(du)測量儀
產品時間:2020-03-12
霍梅爾NanoScan高精密(mi)粗(cu)糙輪廓度(du)測量(liang)儀可以(yi)在一個測量(liang)流程內組(zu)合測量(liang)粗(cu)糙度(du)和輪廓,柔性大,能夠滿足表面(mian)測量(liang)技術的所(suo)有(you)需(xu)求,既省時(shi),又省費用(yong)。
技術特點 | 主要特點 |
?電子測(ce)頭(tou)臂識(shi)別技術 | ?超(chao)精(jing)密的光機探測系統 |
?探測(ce)頭(tou)的電子保護裝置 | ?通用性好(hao) |
?電子調節(jie)探測力 | ?極富人(ren)性化的設計(ji) |
?高精度的測頭(tou)臂定位 | ?測頭臂的選擇范圍廣 |
?可上下測量 | ?創新的(de)技術 ?校準方法簡(jian)單 ?新(xin)的(de)評價可(ke)能:可(ke)上下測(ce)量,測(ce)量工件表面形(xing)貌時的(de)測(ce)量行(xing)程大 |
校準方法 | 帶電子識別功能的測頭(tou)臂支架 由于使(shi)用了(le)磁性(xing)測頭(tou)臂(bei)(bei)支架,所以測頭(tou)臂(bei)(bei)的更(geng)換迅速(su)可靠 | 可上下測量(liang) 測頭臂(bei)安(an)裝了雙探(tan)測頭,所以一次運行可(ke)上下(xia)探(tan)測 |
霍梅爾-艾達米克NanoScan
選項(xiang) | 供(gong)貨范圍 |
?用于特殊(shu)測量需求的粗糙度和輪(lun)廓測頭臂 ?經過認證的qs-STAT接(jie)口(kou)(AQDEF)。 ?輪廓標準塊(kuai)KN8 ?可保護測量系統(tong)免受(shou)環境(jing)影響的護罩
| ?帶(dai)22"TFT顯(xian)示屏的評(ping)價(jia)電腦,CD刻錄器(qi),粗糙(cao)度和(he)輪廓測量(liang)評(ping)價(jia)軟件(jian) ?具有自動保存功能的PDF打印(yin)機(ji) ?wavecontrol™basic操作面板 ?包(bao)含3個帶(dai)金剛石(shi)探測(ce)頭或紅寶石(shi)測(ce)頭的測(ce)頭臂 ?粗糙度標準塊RNDH2 ?用(yong)于緊(jin)固工件的(de)測(ce)量臺MT1 XYO ?校準用球(qiu)形(xing)標(biao)準件
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型號 | NanoScan855 |
測量范圍 | R+C:24/48mm |
zui小分辨率 | R+C:0.6/1.2nm |
水平測量范圍(wei)/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
測量(liang)立柱行程 | 550mm |
硬巖石板(ban) | 850x600mm |