X射線工業CT斷層掃描測量儀
簡要描述：
Werth將X射線(xian)(xian)掃描成(cheng)像技術整合到(dao)三坐(zuo)標測量系統(tong)，WERTH X射線(xian)(xian)工(gong)(gong)業CT斷層掃描測量儀(yi)可(ke)(ke)實現(xian)產品無損可(ke)(ke)視化準確測量，并可(ke)(ke)選配光學、光纖、探(tan)針、激(ji)光掃描等多種傳感(gan)器。對工(gong)(gong)件內外部(bu)所有結構尺寸(cun)全(quan)面的高(gao)精密測量，同時可(ke)(ke)實現(xian)工(gong)(gong)件材質的缺(que)陷分析。
產品(pin)時(shi)間(jian)：2020-06-30
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀介紹：
德國Werth公司是將X射線掃描成(cheng)像(xiang)技術整(zheng)合到三坐標測(ce)(ce)量(liang)(liang)系統(tong)，實現產(chan)品(pin)無損(sun)(sun)可(ke)視化準(zhun)確(que)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，并(bing)可(ke)選配(pei)光學、光纖、探針、激光掃描等(deng)多種(zhong)傳感器。對工(gong)件(jian)內外部(bu)所有結(jie)構尺(chi)寸全(quan)面的(de)高(gao)(gao)精(jing)密測(ce)(ce)量(liang)(liang)，同(tong)(tong)時(shi)可(ke)實現工(gong)件(jian)材(cai)質(zhi)的(de)缺(que)陷分析。可(ke)對塑料(liao)、陶瓷、復合材(cai)料(liao)、金(jin)屬(shu)等(deng)多種(zhong)材(cai)質(zhi)制成(cheng)的(de)產(chan)品(pin)進行無損(sun)(sun)尺(chi)寸測(ce)(ce)量(liang)(liang)和裝配(pei)評(ping)估等(deng)。壓縮測(ce)(ce)量(liang)(liang)周期(qi)的(de)同(tong)(tong)時(shi)，保證(zheng)了(le)高(gao)(gao)品(pin)質(zhi)的(de)要求。Werth工(gong)業CT斷層掃(sao)描測(ce)量儀此機榮獲2005年度歐洲模具設計金(jin)獎。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀特點：
◆ 將X射線斷(duan)層掃(sao)描成像技術(shu)整合(he)到三坐標測(ce)(ce)量系統，實現復雜部件高精(jing)度內外尺寸全(quan)面測(ce)(ce)量
◆ 可(ke)選配(pei)第二個Z軸，配(pei)置其他傳感器（光(guang)學、探 針、光(guang)纖(xian)、激光(guang)等）
◆ Werth公(gong)司(si)技術復合式(shi)傳感器技術，進一步(bu)保(bao)證 CT測量數據更(geng)準(zhun)確
◆ 堅固的花崗巖(yan)基座，保證(zheng)機器具(ju)有高穩定(ding)性
◆ 高(gao)精密機械(xie)軸承技術及線(xian)性導軌系統(tong)，確(que)保實現zui 高(gao)精度的測量
◆ 無論從設計還是結(jie)構，測(ce)量機*并超出(chu)X射線使用(yong)安全(quan)標準
◆ 基于Werth公司(si)優異的(de)圖形(xing)處理及(ji)3D重構技術(shu)，測量速度更快
◆ Werth公(gong)司(si)技(ji)術的X射線傳感(gan)器獨立校準系統
◆ Werth公司(si)技術的柵格(ge)斷層掃(sao)描技術：
精密測量微(wei)小部件
掃描更(geng)大尺寸工件(jian)，提高分辨(bian)率
擴展測量范圍(wei)
◆ 測(ce)量軟件可(ke)快速3D重構(gou)，也(ye)可(ke)進行2D測(ce)量
◆ 測(ce)量工件內部(bu)尺寸的同時，也可實(shi)現材質缺陷分析
◆ 選(xuan)用(yong)廣泛應用(yong)的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認(ren)證(zheng)) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使(shi)用(yong)zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪(lun)廓匹配(pei)分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣(guang)泛應用于復雜尺寸測(ce)量，*評(ping)估，逆向工程(cheng)，質量控制等(deng)
Werth工業CT斷層掃描測量儀應(ying)用(yong)領(ling)域: 模具行業、逆向(xiang)工(gong)程、汽車行業、航(hang)空航(hang)天、精(jing)密(mi)機械加工(gong)、船舶等。
WERTH X射線工業CT斷(duan)層掃描測量(liang)儀技術參數：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測量工件(jian)尺(chi)寸(直(zhi)徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大(da)允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度(du)) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空(kong)間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線(xian)源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
| X射線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射線探測(ce)器(qi)尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率(lv) | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位(wei)速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速(su)度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電(dian)源(yuan) | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據(ju)標準(zhun)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使(shi)用TP200, WFP測(ce)量或(huo)CT傳感(gan)器選擇同等(deng)及更高(gao)精度探針修正(zheng)或(huo)光學傳感(gan)器選用同等(deng)及更高(gao)精度探針修正(zheng)
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
