平面度的測量方法
簡要描述:
德國LAMTECH激光平(ping)面(mian)度測(ce)(ce)量(liang)(liang)儀,平(ping)面(mian)度的測(ce)(ce)量(liang)(liang)方法采(cai)用掠入射(she)光干(gan)涉原(yuan)理,專注于(yu)高精密(mi)加工(gong)表面(mian)平(ping)面(mian)度快(kuai)速測(ce)(ce)量(liang)(liang)評估(gu), 廣泛應用于(yu)航空(kong)航天,汽車工(gong)業(ye)噴油嘴行業(ye),泵、閥門密(mi)封件表面(mian),以(yi)及(ji)光學(xue)工(gong)程(cheng),激光工(gong)程(cheng)等領域。
產(chan)品時間:2020-03-17
平面度,是屬于形位公差中的一種,指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。在傳統的檢測方法中,平面度的測量方法通常(chang)有(you):塞規/塞尺測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)、液平(ping)面(mian)法(fa)(fa)、激光(guang)平(ping)面(mian)干(gan)涉(she)儀(yi)測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)(平(ping)晶干(gan)涉(she)法(fa)(fa))、水(shui)平(ping)儀(yi)/數字(zi)水(shui)平(ping)儀(yi)測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)、以及打表測(ce)(ce)量(liang)法(fa)(fa)。
塞尺(chi)(chi)測量法(fa),只需一(yi)套可隨(sui)身攜(xie)帶的塞尺(chi)(chi)就可隨(sui)時隨(sui)地進行平(ping)面(mian)度的粗(cu)測。目(mu)前很(hen)多(duo)工(gong)廠仍使用該(gai)方法(fa)進行檢測。由于其精度不(bu)高,常規zui薄塞尺(chi)(chi)為(wei)10um,檢測效(xiao)率較低,結果不(bu)夠全面(mian),只能檢測零件邊緣。
液平面(mian)(mian)法,基于連(lian)(lian)通器(qi)工作原理,適合測量連(lian)(lian)續(xu)或不連(lian)(lian)續(xu)的(de)大平面(mian)(mian)的(de)平面(mian)(mian)度,但測量時間長,且對溫度敏感,僅適用于測量精度較低的(de)平面(mian)(mian)。
激(ji)光平面干涉儀(yi)測(ce)量(liang)(liang)(liang)法(fa),zui典(dian)型的(de)用法(fa)是(shi)平晶(jing)干涉法(fa)。但(dan)主(zhu)要于測(ce)量(liang)(liang)(liang)光潔的(de)小平面的(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang),如(ru)千分頭測(ce)量(liang)(liang)(liang)面,量(liang)(liang)(liang)規的(de)工作(zuo)面,光學透鏡。
丹青(qing)公司聯合德國LAMTECH的推出(chu)非接觸激光平(ping)面度測量儀(yi),LAMTECH平(ping)面(mian)度快速測量儀,采(cai)用掠入射光(guang)干(gan)涉原理,專注(zhu)于(yu)高精密(mi)(mi)加工(gong)表面(mian)平(ping)面(mian)度快速測量評估(gu), 廣泛(fan)應用于(yu)航(hang)空航(hang)天,汽(qi)車(che)工(gong)業噴(pen)油嘴行業,泵、閥門密(mi)(mi)封件表面(mian),以及光(guang)學(xue)工(gong)程(cheng)(cheng),激光(guang)工(gong)程(cheng)(cheng)等領域(yu)
德國LAMTECH平面度測量儀快速測量平面度的測量方法,高效快(kuai)速(su),即可以用于車間(jian)現場全檢測,也可以用于實(shi)驗室平面度(du)測量研究(jiu)。
水平儀測(ce)(ce)量法,廣(guang)泛用于工件(jian)表面的(de)直線度和平面度測(ce)(ce)量。測(ce)(ce)量精度高、穩定性好、體積(ji)小、攜帶方(fang)便。但(dan)是用該方(fang)法測(ce)(ce)量時需要(yao)反復(fu)挪(nuo)動儀器(qi)位置,記錄各測(ce)(ce)點的(de)數(shu)據,費時、費力,調整時間長,數(shu)據處理程序繁瑣(suo)。
打表測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)法(fa),典型應用(yong)為(wei)平板(ban)測(ce)(ce)(ce)微儀及三(san)坐標儀,其(qi)(qi)中(zhong)優以三(san)坐標儀為(wei)應用(yong)zui廣泛。測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時指示(shi)器在待測(ce)(ce)(ce)樣品(pin)上(shang)移動,按選定的布點(dian)測(ce)(ce)(ce)取各(ge)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)點(dian)相對于測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)基準的數據(ju)(ju),再經(jing)過(guo)數據(ju)(ju)處理評定出平面度(du)誤(wu)差。但其(qi)(qi)效率較低,通常一(yi)個樣品(pin)需要(yao)幾(ji)分鐘,離15ppm的期望相差甚遠。