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薄膜測厚儀

薄膜測厚儀

簡要描述:

瑞士(shi)SYLVAC薄膜測(ce)厚(hou)儀(yi)用于(yu)測(ce)量(liang)較軟或較硬材(cai)料薄膜厚(hou)度,根據測(ce)量(liang)材(cai)料可(ke)選擇不同(tong)測(ce)力范(fan)圍滿(man)足不同(tong)測(ce)量(liang)任務需求。低測(ce)力可(ke)達0.06N,高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)0.01μm。

產品時間(jian):2020-06-30

瑞士SYLVAC薄膜測厚儀用于測量較軟或較硬材料薄膜厚度,根據測量材料可選擇不同測力范圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N,高分辨率0.01μm。

 

適用(yong)于(yu)電子行(xing)業(ye),光伏(fu)行(xing)業(ye),醫療(liao)行(xing)業(ye),新能(neng)源汽車行(xing)業(ye),鋰電池行(xing)業(ye)用(yong)于(yu)測量(liang)薄(bo)膜厚度(du),具(ju)有精度(du)高,測量(liang)效率快的特點。

而且(qie)這款薄膜測厚儀可實現(xian)數(shu)據(ju)傳輸,支持(chi)數(shu)據(ju)導(dao)入導(dao)出,很方便(bian)的將(jiang)數(shu)據(ju)進行采(cai)集及分析(xi),可追溯性強(qiang),滿(man)足(zu)車間(jian)現(xian)場已經實驗室對于薄膜(mo)的測量需(xu)求。

 

薄膜測厚儀

分辨率:0.1μm

測(ce)力:0.3-1.3N(根據需要選擇)

薄膜測厚儀

分辨率:1μm

測力:0.4-1.6N(根據(ju)需(xu)要(yao)選(xuan)擇)

薄膜測厚儀

 

 

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