工業CT斷層掃描測量機
簡要描述：
工業CT斷層掃(sao)描測量(liang)機(ji)可(ke)(ke)實現產(chan)品(pin)無損(sun)可(ke)(ke)視化準確(que)測量(liang)，并可(ke)(ke)選配光(guang)(guang)學(xue)、光(guang)(guang)纖、探(tan)針、激光(guang)(guang)掃(sao)描等多種(zhong)傳感器。對工件內外部所有(you)結構尺(chi)寸全面的(de)高精密測量(liang)，同(tong)時可(ke)(ke)實現工件材(cai)(cai)質的(de)缺陷分析(xi)。可(ke)(ke)對塑(su)料(liao)、陶瓷、復合材(cai)(cai)料(liao)、金屬等多種(zhong)材(cai)(cai)質制成的(de)產(chan)品(pin)進行(xing)無損(sun)尺(chi)寸測量(liang)和裝配評估等。
產品時間：2020-03-12
Werth*家(jia)將X射線(xian)掃(sao)描(miao)成像技術(shu)整合到三坐標測量(liang)系統，工業CT斷層掃描測量機可(ke)(ke)實(shi)現(xian)產品無(wu)損可(ke)(ke)視(shi)化(hua)準(zhun)確測量(liang)，并(bing)可(ke)(ke)選配光學(xue)、光纖、探針(zhen)、激(ji)光掃描等(deng)多(duo)種傳(chuan)感器。對(dui)工件(jian)內外(wai)部(bu)所有結(jie)構尺寸全面的高精(jing)密測量(liang)，同時(shi)可(ke)(ke)實(shi)現(xian)工件(jian)材(cai)(cai)質(zhi)的缺陷(xian)分(fen)析。可(ke)(ke)對(dui)塑料、陶瓷、復合材(cai)(cai)料、金屬等(deng)多(duo)種材(cai)(cai)質(zhi)制成(cheng)的產品進行無(wu)損尺寸測量(liang)和裝配評估等(deng)。壓(ya)縮測量(liang)周期(qi)的同時(shi)，保證(zheng)了高品質(zhi)的要(yao)求。此(ci)工業CT斷層掃描測量機榮獲2005年度(du)歐洲模具設計金(jin)獎。
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主要特點：
◆ *家(jia)將X射線斷層掃(sao)描成(cheng)像技術(shu)整合到三坐(zuo)標測(ce)量系統，實現復雜(za)部件高精(jing)度內外尺寸全面測(ce)量
◆ 可選配第(di)二個Z軸，配置其他傳感(gan)器（光(guang)學、探 針、光(guang)纖(xian)、激光(guang)等）
◆ Werth公司技術(shu)復合式傳(chuan)感器技術(shu)，進一步(bu)保(bao)證 CT測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩定(ding)性
◆ 高精密機械軸(zhou)承技術(shu)及線性導(dao)軌(gui)系統，確保實現zui 高精度的(de)測量
◆ 無論從設計還是結構(gou)，測量機*并超出X射線使用安(an)全標(biao)準
◆ 基于Werth公司優(you)異的圖形處(chu)理(li)及3D重構(gou)技術，測(ce)量速度更快
◆ Werth公(gong)司技(ji)術的X射(she)線傳感器獨立校準系(xi)統
◆ Werth公(gong)司技術的柵格斷層掃描技術：
精密(mi)測(ce)量微小部件(jian)
掃描更大尺寸工件，提高分辨(bian)率(lv)
擴展測量范圍
◆ 測量(liang)軟件可(ke)(ke)快速3D重構，也可(ke)(ke)進(jin)行2D測量(liang)
◆ 測量工件內部(bu)尺(chi)寸的(de)同時，也(ye)可(ke)實(shi)現材質缺陷(xian)分析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟(ruan)件(jian) (德國國家計量院PTB長度標準(zhun)認證) ，界面(mian)友好，操作簡單
◆ 可(ke)使用*擬合Bestfit及(ji)公差(cha)擬合Tolerancefit軟件進行輪(lun)廓匹配分析及(ji)三維CAD工件公差(cha)比對
◆ 廣泛應用于復雜(za)尺寸(cun)測量，*評估，逆向(xiang)工程，質(zhi)量控制等(deng)
應用領域(yu): 模(mo)具行(xing)業、逆向工程、汽車行(xing)業、航空航天、精密機械加工、船舶等
技術參數：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測量工件尺寸(直(zhi)徑(jing)) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤(wu)差(cha)(E1:單(dan)軸精度(du)) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平(ping)面(mian)精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射(she)線源可選(xuan) | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線探測(ce)器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線(xian)探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨(bian)率(lv) | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位(wei)速(su)度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加(jia)速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承(cheng)重(zhong) | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀(yi)器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準ISO 10360和(he)VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇(ze)同等及更高精(jing)度(du)(du)探(tan)針修(xiu)正(zheng)或光學傳感器選用同等及更高精(jing)度(du)(du)探(tan)針修(xiu)正(zheng)
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射(she)線穿透能力：
Werth獨有的(de)用(yong)于高(gao)(gao)精度、高(gao)(gao)分辨率測量的(de)穿透型標靶射線源。此(ci)標靶在高(gao)(gao)管(guan)電(dian)壓(ya)（如300KV）和大管(guan)電(dian)流的(de)情況下能夠長時(shi)間(jian)穩定地保持微米級(ji)的(de)焦點尺(chi)寸(cun)，這樣就能用(yong)微米級焦點的(de)X射線快(kuai)速的(de)高(gao)精度、高(gao)分辨率進(jin)行測(ce)量高(gao)密度（如鋼(gang)）較大尺寸的(de)零件。
高精度工業CT的(de)復合(he)測量，特別是(shi)在金(jin)屬(shu)、陶瓷、復合(he)材料(liao)的(de)測量具(ju)有很大的(de)優(you)勢，我(wo)們(men)也可提供付費(fei)測量服務，具(ju)體可咨(zi)詢我(wo)們(men)銷(xiao)售。
應用實例：
