德國WerthTomoScope X射線坐標測量機
簡要描述:
德國WerthTomoScope X射線坐標(biao)測量機(ji)
產品時間:2020-03-12
Werth*家(jia)將X射線掃描成(cheng)像技(ji)術整(zheng)合到三坐標測量(liang)(liang)系統,實現產(chan)(chan)品無(wu)損可視化準確測量(liang)(liang),并可選配光(guang)學、光(guang)纖、探針、激(ji)光(guang)掃描等多種(zhong)傳感器。對工件內外部所有結構(gou)尺(chi)寸全面的高(gao)精(jing)密測量(liang)(liang),同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷(ci)、復合材料、金屬等多種(zhong)材質制成(cheng)的產(chan)(chan)品進行無(wu)損尺(chi)寸測量(liang)(liang)和裝配評估等。壓(ya)縮測量(liang)(liang)周期的同時,保證了高(gao)品質的要求。此機榮獲(huo)2005年(nian)度歐洲(zhou)模具(ju)設計(ji)金獎。
Tomo測量(liang)機主要特點:
◆ *家將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統,實現(xian)復雜(za)部(bu)件高(gao)精度內外尺寸(cun)全面(mian)測量
◆ 可選配第(di)二個Z軸(zhou),配置其他傳感(gan)器(光(guang)學、探(tan) 針、光(guang)纖、激光(guang)等)
◆ Werth公(gong)司(si)技(ji)術復合式傳(chuan)感(gan)器技(ji)術,進(jin)一步(bu)保證 CT測(ce)量數據更準確
◆ 堅(jian)固(gu)的花(hua)崗(gang)巖基(ji)座,保證機(ji)器具有高穩定性
◆ 高精密機械軸(zhou)承(cheng)技術及(ji)線性導軌(gui)系統(tong),確保實現zui 高精度(du)的測量
◆ 無論(lun)從(cong)設計(ji)還是結(jie)構(gou),測(ce)量機*并超出X射線使用安全標準
◆ 基(ji)于Werth公司(si)優異(yi)的圖(tu)形處理及3D重構技(ji)術(shu),測量(liang)速度更(geng)快
◆ Werth公司技術的X射線傳(chuan)感(gan)器獨立校準系(xi)統
◆ Werth公司技術(shu)的柵格斷層掃描技術(shu):
精密測量微小部(bu)件
掃描(miao)更大尺寸工件,提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測量(liang)軟(ruan)件(jian)可(ke)快(kuai)速(su)3D重構,也可(ke)進(jin)行2D測量(liang)
◆ 測(ce)量工件內部尺寸的同時,也可實現材質缺陷分(fen)析
◆ 選用廣泛應(ying)用的WinWerth軟件 (德(de)國(guo)國(guo)家計量院PTB長度標準(zhun)認證) ,界(jie)面(mian)友(you)好,操作簡單
◆ 可使用(yong)*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jin)行輪廓(kuo)匹配(pei)分析及三維CAD工件公差比(bi)對
◆ 廣泛應用于復雜(za)尺寸測量,*評估,逆向工(gong)程,質量控(kong)制等(deng)
應用(yong)領(ling)域: 模具行(xing)業、逆(ni)向工程、汽車(che)行(xing)業、航空航天、精(jing)密機械加工、船(chuan)舶等
技術參(can)數(shu):
型 號(hao) | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測(ce)量工件尺(chi)寸(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測(ce)量高(gao)度(du) | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差(cha) (用CT傳感器(qi)) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤差(E1:單軸精度(du)) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射(she)線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線探測器(qi)尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨(bian)率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定(ding)位(wei)速(su)度(du) | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工(gong)作臺承重(zhong) | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標(biao)準ISO 10360和VDI/VDE 2617,使(shi)用(yong)TP200, WFP測(ce)量或(huo)CT傳感(gan)(gan)器(qi)選擇同等及更(geng)高(gao)精度探(tan)針修正(zheng)或(huo)光學(xue)傳感(gan)(gan)器(qi)選用(yong)同等及更(geng)高(gao)精度探(tan)針修正(zheng)
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射(she)線穿透能力:
Werth獨(du)有的(de)用于高精(jing)度、高分辨率測量(liang)的(de)穿透型標靶射線源(yuan)。此標靶在高管(guan)電壓(ya)(如300KV)和大(da)管(guan)電流的(de)情況下能夠長時間穩定地保持(chi)微米(mi)級的(de)焦點尺寸,這樣(yang)就能用微米(mi)級焦點(dian)的(de)X射線(xian)快速(su)的(de)高精度、高分辨率進行測(ce)量高密度(如鋼)較大(da)尺寸的(de)零件。
類別 | TomoScope | ||||
射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反射(she)) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應用實例: