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德國WerthTomoScope X射線坐標測量機

德國WerthTomoScope X射線坐標測量機

簡要描述:

德國WerthTomoScope X射線坐標(biao)測量機(ji)

產品時間:2020-03-12

TomoScope X射線坐標測量機 Werth*家(jia)將X射線掃描成(cheng)像技(ji)術整(zheng)合到三坐標測量(liang)(liang)系統,實現產(chan)(chan)品無(wu)損可視化準確測量(liang)(liang),并可選配光(guang)學、光(guang)纖、探針、激(ji)光(guang)掃描等多種(zhong)傳感器。對工件內外部所有結構(gou)尺(chi)寸全面的高(gao)精(jing)密測量(liang)(liang),同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷(ci)、復合材料、金屬等多種(zhong)材質制成(cheng)的產(chan)(chan)品進行無(wu)損尺(chi)寸測量(liang)(liang)和裝配評估等。壓(ya)縮測量(liang)(liang)周期的同時,保證了高(gao)品質的要求。此機榮獲(huo)2005年(nian)度歐洲(zhou)模具(ju)設計(ji)金獎。

Tomo測量(liang)機主要特點
*家將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統,實現(xian)復雜(za)部(bu)件高(gao)精度內外尺寸(cun)全面(mian)測量
 可選配第(di)二個Z軸(zhou),配置其他傳感(gan)器(光(guang)學、探(tan)  針、光(guang)纖、激光(guang)等)
Werth公(gong)司(si)技(ji)術復合式傳(chuan)感(gan)器技(ji)術,進(jin)一步(bu)保證 CT測(ce)量數據更準確
堅(jian)固(gu)的花(hua)崗(gang)巖基(ji)座,保證機(ji)器具有高穩定性
高精密機械軸(zhou)承(cheng)技術及(ji)線性導軌(gui)系統(tong),確保實現zui  高精度(du)的測量
無論(lun)從(cong)設計(ji)還是結(jie)構(gou),測(ce)量機*并超出X射線使用安全標準
基(ji)于Werth公司(si)優異(yi)的圖(tu)形處理及3D重構技(ji)術(shu),測量(liang)速度更(geng)快 
  Werth公司技術的X射線傳(chuan)感(gan)器獨立校準系(xi)統
  Werth公司技術(shu)的柵格斷層掃描技術(shu):
        精密測量微小部(bu)件
        掃描(miao)更大尺寸工件,提高分辨率
        擴展測量范圍
  測量(liang)軟(ruan)件(jian)可(ke)快(kuai)速(su)3D重構,也可(ke)進(jin)行2D測量(liang)
  測(ce)量工件內部尺寸的同時,也可實現材質缺陷分(fen)析
  選用廣泛應(ying)用的WinWerth軟件 (德(de)國(guo)國(guo)家計量院PTB長度標準(zhun)認證) ,界(jie)面(mian)友(you)好,操作簡單
  可使用(yong)*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jin)行輪廓(kuo)匹配(pei)分析及三維CAD工件公差比(bi)對
  廣泛應用于復雜(za)尺寸測量,*評估,逆向工(gong)程,質量控(kong)制等(deng)

應用(yong)領(ling)域: 模具行(xing)業、逆(ni)向工程、汽車(che)行(xing)業、航空航天、精(jing)密機械加工、船(chuan)舶等

  

技術參(can)數(shu)

   號(hao)

TomoScope HA

TomoCheck

TomoScope

HV Compact

TomoScope HV 500

zui大測(ce)量工件尺(chi)寸(直徑)

90mm

90/200/200mm

180/350mm

360/500mm

zui大測(ce)量高(gao)度(du)

285mm

240/360/400mm

180/520mm

380/700mm

zui大允許誤差(cha) (CT傳感器(qi))

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

zui大允許誤差(E1:單軸精度(du))

(2,5+L/120) µm

(0,5+L/900)µm

(2,5+L/120) µm

(2,5+L/120) µm

     (E2:平面精度)

(2,9+L/100) µm

(0,7+L/600) µm

(2,9+L/100) µm

(2,9+L/100) µm

   (E3:空間精度)

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

X射線源可選

130/150/190kV

130/150/190/225kV

225/300/320kV

225/300/320/450kV 

X射(she)線探測器像素

1024x1024

1024x1024

2048x2048

2048x2048

X射線探測器(qi)尺寸

50x50mm

50x50mm

200x200mm

400x400mm

分辨(bian)率

0.1µm

0.1/0.01µm

0.1µm

0.1µm

定(ding)位(wei)速(su)度(du)

150mm/s

60mm/s

150mm/s

150mm/s

加速度

300mm/s2

250 mm/s2

350 mm/s2

350 mm/s2

工(gong)作臺承重(zhong)

2kg

10kg

40kg

40kg

電源

230V +/-10%

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

氣壓

7-10bar

7-10bar

7-10bar

7-10bar

儀器自重

3000kg

6000kg

11000kg

13000kg

1). 依據標(biao)準ISO 10360和VDI/VDE 2617,使(shi)用(yong)TP200, WFP測(ce)量或(huo)CT傳感(gan)(gan)器(qi)選擇同等及更(geng)高(gao)精度探(tan)針修正(zheng)或(huo)光學(xue)傳感(gan)(gan)器(qi)選用(yong)同等及更(geng)高(gao)精度探(tan)針修正(zheng)
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

 

X射(she)線穿透能力:
 Werth獨(du)有的(de)用于高精(jing)度、高分辨率測量(liang)的(de)穿透型標靶射線源(yuan)。此標靶在高管(guan)電壓(ya)(如300KV)和大(da)管(guan)電流的(de)情況下能夠長時間穩定地保持(chi)微米(mi)級的(de)焦點尺寸,這樣(yang)就能用微米(mi)焦點(dian)的(de)X射線(xian)快速(su)的(de)高精度、高分辨率進行測(ce)量高密度(如鋼)較大(da)尺寸的(de)零件。

 

類別TomoScope
射線源功率130KV150KV190KV225KV300KV
鋼/陶瓷5mm8mm25mm40mm70mm
30mm50mm90mm150mm250mm
塑料90mm130mm200mm250mm450mm
射線管
光源類型反射反射反射/透射反射/透射反射/透射
光斑尺寸

 0.00Xmm-0.Xmm

0.00Xmm-0.Xmm

 

0.00X mm – 0.X mm (反射(she))

≤ 0.00X mm (透射)

0.00X mm – 0.X mm (反射)

≤ 0.00X mm (透射)

0.00X mm – 0.X mm (反射)

≤ 0.00X mm (透射)

  

 應用實例:

TomoScope X射線坐標測量機

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